Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional
Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplic...
| Main Authors: | , , |
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Universidad Nacional Autónoma de México
2017-12-01
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| Series: | Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/article/view/57893/51855 |