Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional

• Main Authors: Maidelyn Díaz Pérez, Raudel Giráldez Reyes, Humberto Andrés Carrillo-Calvet
• Format: Article
• Language: English
• Published: Universidad Nacional Autónoma de México 2017-12-01
• Series: Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información
• Subjects: estudio patentométrico de innovaciones tecnológicas; redes de dominios tecnológicos; indicadores de colaboración tecnológica
• Online Access: http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/article/view/57893/51855

Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplicados óptimamente por todos los países, ni por todos los organismos internacionales, tampoco son aprovechadas todas las potencialidades que ofrecen estos estudios para conocer los diferentes contextos de las innovaciones tecnológicas de un país. Este artículo tiene como objetivo analizar el comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba, aplicando una metodo logía propia que describe las principales innovaciones científico-tecnológicas patentadas por la Oficina Cubana de Propiedad Industrial. La metodología propuesta utiliza el software proIntec para la descarga, normalización, procesamiento, análisis y visualización de los datos procedentes de las patentes, y se aplica un amplio grupo de indicadores métricos relacionales y complejos, así como técnicas de redes sociales para visualizar los principales comportamientos de las innovaciones tecnológicas cubanas. Los resultados finales manifiestan las potencialidades de los estudios métricos de patentes, al poder representar los desarrollos tecnológicos del país y sus contribuciones al sistema de ciencia e innovación tecnológica nacional.