Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional

Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplic...

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Bibliographic Details
Main Authors: Maidelyn Díaz Pérez, Raudel Giráldez Reyes, Humberto Andrés Carrillo-Calvet
Format: Article
Language:English
Published: Universidad Nacional Autónoma de México 2017-12-01
Series:Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información
Subjects:
Online Access:http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/article/view/57893/51855

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