Klem Aktif Tunggal Interleaved flyback dengan Kombinasi N-MOSFET dan P-MOSFET

<p>Penggunaan topologi interleaved <em>flyback</em> dengan menyusun dua atau lebih rangkaian <em>flyback</em> dapat mengakibatkan peningkatan dampak tegangan kejut. Dengan meningkatnya dampak tegangan kejut akan berakibat meningkatnya pula resiko kerusakan sistem akibat...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Andriyatna Agung Kurniawan, Eka Firmansyah, F. Danang Wijaya
Format: Article
Language:Indonesian
Published: Sekolah Tinggi Manajemen Informatika dan Komputer (STMIK) AMIKOM Purwokerto 2018-02-01
Series:Telematika
Subjects:
Online Access:http://ejournal.amikompurwokerto.ac.id/index.php/telematika/article/view/599