Caracterização estrutural por difração de raios X de alta resolução de SiAlONs sinterizados com diferentes aditivos Structural characterization by high-resolution X-ray diffraction of SiAlONs sintered with different additives
A técnica de difração de raios X de alta resolução foi utilizada para a caracterização estrutural da solução sólida, formada a partir de nitreto de silício (Si3N4), denominada alfa-SiAlON. Cerâmicas de alfa-SiAlON foram produzidas utilizando aditivos à base de AlN-Y2O3 ou AlN-CRE2O3. O óxido misto,...
| Main Authors: | , , , , |
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Associação Brasileira de Cerâmica
2005-12-01
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| Series: | Cerâmica |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0366-69132005000400002 |