Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques

Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X (mDXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales media...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: John Deiver Bonilla-Jaimes, Jose Antonio Henao-Martínez, Carolina Mendoza-Luna, Oscar Mauricio Castellanos-Alarcón, Carlos Alberto Ríos-Reyes
Format: Article
Language:English
Published: Universidad Nacional de Colombia 2016-01-01
Series:Dyna
Subjects:
Online Access:https://revistas.unal.edu.co/index.php/dyna/article/view/46360