Modélisation et caractérisation de transistors MOS appliquées à l'étude de la programmation et du vieillissement de l'oxyde tunnel des mémoires EEPROM
Les mémoires volatiles représentent aujourd'hui 30% du marché des mémoires à semi-conducteurs. La tendance générale actuelle consiste à mettre au point des produits nomades capables d'emmagasiner et de restituer une grande quantité d'informations en peu de temps et pouvant fonctionner...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université de Provence - Aix-Marseille I
2004
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00009378 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/80/95/PDF/tel-00009378.pdf |