Conditions optimales de fonctionnement pour la fiabilité des transistors à effet de champ micro-ondes de puissance

Ce mémoire de thèse traite de la fiabilité des circuits intégrés monolithiques en Arséniure de Gallium pour l'amplification de puissance micro-ondes a bord des satellites de télécommunications et d'observation. L'objectif de ce travail est de déterminer des règles de réduction des con...

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Bibliographic Details
Main Author: MURARO, Jean Luc
Language:FRE
Published: Université Paul Sabatier - Toulouse III 1997
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010072
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/83/85/PDF/tel-00010072.pdf