Conditions optimales de fonctionnement pour la fiabilité des transistors à effet de champ micro-ondes de puissance
Ce mémoire de thèse traite de la fiabilité des circuits intégrés monolithiques en Arséniure de Gallium pour l'amplification de puissance micro-ondes a bord des satellites de télécommunications et d'observation. L'objectif de ce travail est de déterminer des règles de réduction des con...
Main Author: | MURARO, Jean Luc |
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Language: | FRE |
Published: |
Université Paul Sabatier - Toulouse III
1997
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010072 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/83/85/PDF/tel-00010072.pdf |
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