Caractérisation de défauts latents dans les circuits intégrés soumis à des décharges électrostatiques
Les agressions électriques, du type décharges électrostatiques (ESD) et surcharges électriques (EOS), sont à l'origine de plus de 50% des défaillances des circuits intégrés. De plus, avec l'avènement des technologies sans fil et des applications dites "plus électriques" en automo...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université Paul Sabatier - Toulouse III
2006
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00139542 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/13/95/42/PDF/These_Nicolas_GUITARD.pdf |