Modélisation de Fautes et Test des Mémoires Flash
Les mémoires non volatiles de type Flash sont aujourd'hui présentes dans un grand nombre de circuits intégrés conçus pour des applications électroniques portables et occupent une grande partie de leur surface. L'absence de défauts à l'intérieur de ces mémoires constitue donc un des él...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
2007
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00194584 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/19/45/84/PDF/TheseOGzv5.pdf |