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Application en métrologie électrique de dispositifs monoélectroniques : vers une fermeture du triangle métrologique

Application en métrologie électrique de dispositifs monoélectroniques : vers une fermeture du triangle métrologique

Dans l'optique d'une modification du système international d'unités (SI), le LNE développe l'expérience du triangle métrologique (ETM). Cette expérience consiste à appliquer la loi d'Ohm à l'aide des effets Hall quantique pour la résistance, Josephson pour la tension et...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Steck, Barthélémy
Language:FRE
Published: Université de Caen 2007
Subjects:
[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
[PHYS:COND] Physics/Condensed Matter
Mesures physiques
constantes physiques
incertitude de mesure
effet tunnel
interaction<br />électron-électron
système métrique
bruit électromagnétique
blocage de Coulomb
comparateur cryogénique de courants (CCC)
triangle métrologique
mesure de faibles courants
<br />métrologie électrique
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00203161
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/20/31/61/PDF/These_BSteck.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/20/31/61/ANNEX/Soutenance_BSteck.pdf
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http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00203161
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/20/31/61/PDF/These_BSteck.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/20/31/61/ANNEX/Soutenance_BSteck.pdf

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