Methodologie de conception des protections des circuits intégrés contre les décharges électostatiques
La problématique des agressions par décharges électrostatiques (ESD) est un facteur critique dans la fiabilité des circuits intégrés. Ce document effectue la synthèse des travaux menés au LAAS-CNRS dans ce domaine. Les points suivants seront plus particulièrement abordés : - L'étude des mécanis...
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Paul Sabatier - Toulouse III
2005
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00265344 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/26/53/44/PDF/HDR_Nolhier.pdf |