Méthodologie de modélisation et de caractérisation de l'immunité des cartes électroniques vis-à-vis des décharges électrostatiques (ESD)
Grâce à l'augmentation continue des performances des circuits intégrés, l'électronique s'est largement développée dans la plupart des secteurs d'activité et tout particulièrement dans les systèmes embarqués. Ces systèmes doivent répondre à des contraintes de fiabilité sévères pou...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
INSA de Toulouse
2008
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00283105 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/28/31/05/PDF/These_V2.pdf |