Test fonctionnel des circuits intégrés digitaux
L'objet de cette thèse est l'étude de deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test pour les circuits intégrés digitaux. Après un rappel des problèmes actuels posés par le test des circuits VLSI (partie I), deux méthodes de génération automatique de vecteurs de test adressant...
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | FRE |
| Published: |
1985
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00316164 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/31/61/64/PDF/Archambeau.Eric_1985_these.pdf |