Etude et validation de nouveaux nano-émetteurs destinés à la microscopie optique en champ proche : développement de pointées fonctionnalisées
Un des problèmes majeurs et non encore résolu en microscopie optique champ proche est le choix de l'émetteur ou du capteur optimal. Parmi les techniques développées, l'utilisation de sondes métalliques a conduit aux résolutions les plus élevées. L'inconvénient de ces nano-sondes réali...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université de Franche-Comté
2006
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00373790 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/37/37/90/PDF/THESE.pdf |