Analyse électrique de diélectriques SiOCH poreux pour évaluer la fiabilité des interconnexions avancées

Avec la miniaturisation des circuits intégrés, le délai de transmission dû aux interconnexions a fortement augmenté. Pour limiter cet effet parasite, le SiO2 intégré en tant qu'isolant entre les lignes métalliques a été remplacé par des matériaux diélectriques à plus faible permittivité diélect...

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Bibliographic Details
Main Author: Verriere, Virginie
Language:fra
Published: Université de Grenoble 2011
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00593515
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/59/37/64/PDF/17962_VERRIERE_2011_archivage_1_.pdf