Etude du transport électronique dans les nanodispositifs semiconducteurs par microscopie à grille locale
La microscopie de grille à balayage (SGM pour Scanning GateMicroscopy), développée à la fin des années 1990, est devenue un outilpuissant pour étudier les propriétés électroniques locales dans lesnano-dispositifs semi-conducteurs. La SGM est basée sur la techniqueAFM, mais la pointe métallique est u...
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | fra |
| Published: |
Université de Grenoble
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00635475 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/63/54/75/PDF/Liu-thesis-high.pdf |