Etude du transport électronique dans les nanodispositifs semiconducteurs par microscopie à grille locale
La microscopie de grille à balayage (SGM pour Scanning GateMicroscopy), développée à la fin des années 1990, est devenue un outilpuissant pour étudier les propriétés électroniques locales dans lesnano-dispositifs semi-conducteurs. La SGM est basée sur la techniqueAFM, mais la pointe métallique est u...
Main Author: | |
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Language: | fra |
Published: |
Université de Grenoble
2011
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00635475 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/63/54/75/PDF/Liu-thesis-high.pdf |