Etude des mécanismes physiques responsables des dysfonctionnements des transistors HEMTs à base d'hétérostructures AlGaN/GaN et AlInN/GaN

La fabrication des composants semi-conducteurs à base de nitrure de gallium (GaN) connaît actuellement une grande expansion. Ce matériau, par ces propriétés physico-chimiques intéressantes, est un très bon candidat pour la fabrication des composants de puissance à haute fréquence de fonctionnement....

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Chikhaoui, Walf
Language:FRE
Published: INSA de Lyon 2011
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00679527
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/95/27/PDF/these.pdf