Développement d'un banc de thermographie infrarouge pour l'analyse in-situ de la fiabilité des microsystèmes
Au cours des dernières années, l'essor spectaculaire des microsystèmes (ou MEMS), qui touche tous les domaines industriels, est à l'origine de nombreux et nouveaux progrès technologiques. Néanmoins, dans ce contexte prometteur de large envergure, la fiabilité des MEMS s'avère être la...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00788682 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/78/86/82/PDF/Chrystelle-fillit-diff.pdf |