Nouvelles approches pour la nano-caractérisation, et la micro- et nano-robotique par sondes locales
Le développement de la microscopie à effet tunnel (Scanning Tunneling Microscopy, STM), et ensuite de la microscopie à force atomique (Atomic Force Microscopy, AFM), dans les années 80 a représenté la percée la plus significative des nanosciences, sinon leur vrai point de départ. Depuis 1991, la mic...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université de Versailles-Saint Quentin en Yvelines
2012
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00845307 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/84/68/15/PDF/HDR_J-POLESEL_16072013.pdf http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/84/68/15/ANNEX/presentation_HDR_J-POLESEL_02102012.pdf |