Etude de la robustesse d'amplificateurs embarqués dans des applications portables soumis à des décharges électrostatiques (ESD) au niveau système
Avec les évolutions technologiques, les composants électroniques deviennent de plus en plus sensibles aux décharges électrostatiques (ESD). De nos jours, la fiabilité des circuits intégrés dans les étapes de fabrication est garantie par un ensemble de normes définissant des niveaux de robustesse. Ma...
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | fra |
| Published: |
Université Paul Sabatier - Toulouse III
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00849735 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/84/97/35/PDF/THESE_GIRALDO_TORRES-ok.pdf |