Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l'analyse de défaillance des composants VLSI
Les technologies VLSI (" Very large Scale Integration ") font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits " hard " apparaissant durant les phase...
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2013
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00880532 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/88/05/32/PDF/BASCOUL_GUILLAUME_2013.pdf |