Physical modelling of impurity diffusion and clustering phenomena in CMOS based image sensors
L'essor de l'industrie micro-électronique au cours des dernières années n'aurait pas été possible sans les innovations en termes de procédés de fabrication de la technologie CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) induisant une amélioration continue des performances des composa...
| Main Author: | |
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| Language: | English |
| Published: |
Université Paul Sabatier - Toulouse III
2013
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01020497 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/01/02/04/97/PDF/ESSA_Zahi.pdf |