Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
De nos jours, l'industrie de la microélectronique développe des nouvelles technologies qui permettent l'obtention d'applications du quotidien alliant rapidité, basse consommation et hautes performances. Pour cela, le transistor, composant actif élémentaire et indispensable de l'é...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université de Grenoble
2014
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01060162 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/01/06/01/62/PDF/38288_IGHILAHRIZ_SALIM_2014_archivage.pdf |