Analyse de la fiabilité de mémoires à changement de phase embarquées basées sur des matériaux innovants
Les Mémoires ont de plus en plus importance à l'époque actuelle, et sont fondamentales pour la définition de tous les systèmes électroniques avec lesquels nous entrons en contact dans notre vie quotidienne. Les mémoires non-volatiles (NVM), représentées par la technologie Flash, ont pu suivre j...
| Main Author: | |
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| Language: | English |
| Published: |
Université de Grenoble
2013
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01061792 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/01/06/17/92/PDF/36879_NAVARRO_2013_archivage.pdf |