考量專利品質下之台灣IC設計產業研發效率分析
本研究旨在探討民國88年至94年台灣IC設計產業之研發效率分析。採兩階段資料包絡分析法(Data Envelopment Analysis, DEA):第一階段以保證區域資料包絡分析法(Assurance Region DEA，AR/DEA)衡量績效，以避免傳統DEA方法可能出現產出或投入的乘數為0之狀況。第二階段採資料切齊的(censored) TOBIT迴歸模型探討影響研發效率值的效率因子。 研究發現: (1)只考量專利數量與納入專利品質考量下之統計檢定結果，雖沒有顯著的差 異，但對少數的廠商的研發效率值與排名確實有變動，納入專利品質考 量，可以掌握更多研究發展資訊，了解廠商專...
| Main Author: | |
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| Language: | 中文 |
| Published: |
國立政治大學
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://thesis.lib.nccu.edu.tw/cgi-bin/cdrfb3/gsweb.cgi?o=dstdcdr&i=sid=%22G0095258011%22. |