Komplexe Röntgendiffraktometrie an Dünnschichtsystemen
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Ver...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Dissertation |
| Language: | German |
| Published: |
2005
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:ch1-200500358 https://monarch.qucosa.de/id/qucosa%3A18293 https://monarch.qucosa.de/api/qucosa%3A18293/attachment/ATT-0/ https://monarch.qucosa.de/api/qucosa%3A18293/attachment/ATT-1/ |