Transiente Simulation zur Optimierung von ALD-Prozessen

Für die Beschichtung von Bauelementen im Bereich der Elektronik erlangt das Beschichtungsverfahren der Atomlagenabscheidung zunehmend an Bedeutung. Dieses Verfahren überzeugt hier durch seine Fähigkeit sehr homogene Schichten mit einer Dicke von wenigen nm auch auf Strukturen mit hohen Aspektverhält...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Jäckel, Linda
Other Authors: TU Bergakademie Freiberg, Maschinenbau, Verfahrens- und Energietechnik
Format: Others
Language:deu
Published: Technische Universitaet Bergakademie Freiberg Universitaetsbibliothek "Georgius Agricola" 2014
Subjects:
ALD
TMA
Online Access:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-129523
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-129523
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/12952/bachelorjaeckel.pdf