Strahlende Defekte in multikristallinem Silicium
In dieser Arbeit wurde das moderne Spektroskopieverfahren „push-broom hyperspectral imaging“ für die Analyse von multikristallinem Silicium eingesetzt. Diese Methode ermöglicht das gleichzeitige Aufzeichnen mehrerer Spektren. Daraus ergeben sich kürzere Messzeiten im Vergleich zu anderen spektroskop...
| Main Author: | |
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| Format: | Doctoral Thesis |
| Language: | deu |
| Published: |
Technische Universitaet Bergakademie Freiberg Universitaetsbibliothek "Georgius Agricola"
2012
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-86230 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-86230 http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/8623/Diss_Dreckschmidt_Strahlende_Defekte_in_mc_Silicium.pdf |