Zum thermischen Widerstand von Silicium-Germanium-Hetero-Bipolartransistoren
Der thermische Widerstand ist eine wichtige Kenngröße von Silicium-Germanium-Hetero-Bipolartransistoren (SiGe-HBTs). Bisher kam es bei der quantitativen Bestimmung der thermischen Widerstände von SiGe-HBTs zu deutlichen Abweichungen zwischen Simulation und Messung. Der Unterschied zwischen Simulatio...
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Format: | Doctoral Thesis |
Language: | deu |
Published: |
Universitätsbibliothek Chemnitz
2014
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Subjects: | |
Online Access: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-150269 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-150269 http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/15026/Dissertation_Korndoerfer_Falk.pdf http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/15026/signatur.txt.asc |