Transiente Methoden der Infrarot-Thermografie zur zerstörungsfreien Fehleranalytik in der mikroelektronischen Aufbau- und Verbindungstechnik

In dieser Arbeit wurde eine neue fehleranalytische Methode zur industriellen Anwendung an neuen Technologien der Aufbau- und Verbindungstechnik entwickelt. Das Verfahren basiert auf der Wechselwirkung von thermischen Wellen und Defekten. Die Besonderheit ist dabei die Zerstörungsfreiheit, die Gesch...

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Bibliographic Details
Main Author: May, Daniel
Other Authors: TU Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Format: Doctoral Thesis
Language:deu
Published: Universitätsbibliothek Chemnitz 2015
Subjects:
Online Access:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-163082
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-163082
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/16308/Dissertation_Daniel_May.pdf
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/16308/signatur.txt.asc