Raman-Spektroskopie an epitaktischem Graphen auf Siliziumkarbid (0001)

Die vorliegende Arbeit behandelt die Charakterisierung von epitaktischem Graphen auf Siliziumkarbid (0001) mittels Raman-Spektroskopie. Nach der Einführung theoretischer sowie experimenteller Grundlagen werden das Wachstum von Graphen auf Siliziumkarbid (SiC) behandelt und die untersuchten Materials...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Fromm, Felix Jonathan
Other Authors: TU Chemnitz, Fakultät für Naturwissenschaften
Format: Doctoral Thesis
Language:deu
Published: Universitätsbibliothek Chemnitz 2015
Subjects:
Online Access:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-165167
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-165167
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/16516/Dissertation_Felix_Fromm.pdf
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/16516/signatur.txt.asc