Caracterização de filmes finos de CdTe por meio de teoria de escala anômala

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Full description

Bibliographic Details
Main Author: Nascimento, Fábio Santos
Other Authors: Ferreira, Sukarno Olavo
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Universidade Federal de Viçosa 2015
Subjects:
Online Access:http://locus.ufv.br/handle/123456789/4241