Metrologia óptica de superfícies e filmes dielétricos com extensão a recobrimentos de microestrutura inomogenea
Em nosso trabalho, temos como objetivo a caracterização óptica de superfícies, filmes homogêneos e filmes inomogêneos. Utilizamos ao todo cinco técnicas experimentais, sendo três delas estendidas à caracterização de filmes inomogêneos com índice gradual. Estas extensões, o principal aspecto inovador...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/119646 |