Designing single event upset mitigation techniques for large SRAM-Based FPGA components

Designing single event upset mitigation techniques for large SRAM-Based FPGA components

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Esse trabalho consiste no estudo e desenvolvimento de técnicas de proteção a falhas transientes, também chamadas single event upset (SEU), em circuitos programáveis customizáveis por células SRAM. Os projetistas de circuitos eletrônicos estão cada vez mais predispostos a utilizar circuitos programáv...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Other Authors: Reis, Ricardo Augusto da Luz
Format: Others
Language:English
Published: 2007
Subjects:
Microeletrônica
Fpga
Tolerancia : Falhas
Fault tolerance
Single event upset
Fault injection
Time and hardware redundancy
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/4181

Internet

http://hdl.handle.net/10183/4181

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