Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do efeito de Bias Temperature Instability
O trabalho propõe um circuito para caracterização estatística do fenômeno Bias Temperature Instability (BTI). O circuito tem como base uma matriz de transistores para caracterização eficiente em larga escala de BTI. O design proposto visa o estudo da variabilidade de BTI dependente do tempo em dispo...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/147989 |