Modelo do descasamento (Mismatch) entre transistores MOS

Modelo do descasamento (Mismatch) entre transistores MOS

Tese (Doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-graduação em Engenharia Elétrica === Made available in DSpace on 2012-10-23T23:18:34Z (GMT). No. of bitstreams: 1 251255.pdf: 2674400 bytes, checksum: 6117efc022d122e5de42d39f63754994 (MD5) === Diversos mo...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Klimach, Hamilton
Other Authors: Universidade Federal de Santa Catarina
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Florianópolis, SC 2012
Subjects:
Engenharia eletrica
Transistores de efeito de campo de semicondutores de oxido metalico
Circuitos integrados
Online Access:http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/91474

Internet

http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/91474

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