Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

Orientador: Vitor Baranauskas === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação === Made available in DSpace on 2018-08-03T16:29:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 JingGuo_Zhao_D.pdf: 1072525 bytes, checksum: 187cf6bcaca16a2f362527ac4d87c3d5 (MD5...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Jing Guo, Zhao
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2003
Subjects:
Filmes finos
Ciência dos materiais
Topografia
Microscopia de força atômica
Online Access:JING GUO, Zhao. Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica. 2003. 32p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260318>. Acesso em: 3 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260318

Internet

JING GUO, Zhao. Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica. 2003. 32p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260318>. Acesso em: 3 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260318

Similar Items