Propriedades opticas e eletricas de nanoestruturas de Si

Propriedades opticas e eletricas de nanoestruturas de Si

Orientador: Jacobus Willibrordus Swart === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação === Made available in DSpace on 2018-08-12T22:45:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Dias_GuilhermeOsvaldo_D.pdf: 3822925 bytes, checksum: 25e0dd51fed5d5d3cb...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Dias, Guilherme Osvaldo
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2009
Subjects:
Silício
Nanoestrutura
Silício - Propriedades óticas
Silício - Propriedades elétricas
Materiais - Propriedades elétricas
Silicon
Nanostructures
Silicon - Optical properties
Silicon - Electrical properties
Online Access:DIAS, Guilherme Osvaldo. Propriedades opticas e eletricas de nanoestruturas de Si. 2009. 137p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260826>. Acesso em: 12 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260826

Internet

DIAS, Guilherme Osvaldo. Propriedades opticas e eletricas de nanoestruturas de Si. 2009. 137p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260826>. Acesso em: 12 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260826

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