Desenvolvimento de sistemas e medida de ruído de alta e baixa frequência em dispositivos semicondutores

Desenvolvimento de sistemas e medida de ruído de alta e baixa frequência em dispositivos semicondutores

Orientador: Peter Jurgen Tatsch === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação === Made available in DSpace on 2018-08-15T23:27:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Manera_LeandroTiago_D.pdf: 3739799 bytes, checksum: 12a6fc4ebbea20e529e4e7e2c7c5...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Manera, Leandro Tiago, 1977-
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2010
Subjects:
Ruído
Semicondutores
Amplificadores (Eletrônica)
Transistores de efeito de campo de semicondutores de óxido metálico
Transistores bipolares
Noise
Semiconductors
Amplifiers
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Bipolar junction transistors
Online Access:MANERA, Leandro Tiago. Desenvolvimento de sistemas e medida de ruído de alta e baixa frequência em dispositivos semicondutores. 2010. 140 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/261062>. Acesso em: 15 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/261062

Internet

MANERA, Leandro Tiago. Desenvolvimento de sistemas e medida de ruído de alta e baixa frequência em dispositivos semicondutores. 2010. 140 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/261062>. Acesso em: 15 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/261062

Similar Items