Caracterização de defeitos em semicondutores atraves de microscopia eletronica de varredura

Caracterização de defeitos em semicondutores atraves de microscopia eletronica de varredura

Orientador: Antonio Celso Fonseca de Arruda === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinas === Made available in DSpace on 2018-07-17T23:02:42Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Assumpcao_RobertodeToledo_D.pdf: 5023146 bytes, checksum: 32dc5ce9025ae42b702c776...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Assumpção, Roberto de Toledo, 1954-
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1988
Subjects:
Semicondutores - Defeitos
Microscopia eletrônica de varredura
Online Access:ASSUMPÇÃO, Roberto de Toledo. Caracterização de defeitos em semicondutores atraves de microscopia eletronica de varredura. 1988. 252f. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinas, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/264606>. Acesso em: 17 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264606

Internet

ASSUMPÇÃO, Roberto de Toledo. Caracterização de defeitos em semicondutores atraves de microscopia eletronica de varredura. 1988. 252f. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinas, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/264606>. Acesso em: 17 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/264606

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