Análise de alta precisão das variáveis cristalográficas de um filme fino

Análise de alta precisão das variáveis cristalográficas de um filme fino

Orientador: Stephenson Caticha Ellis === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campimas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-17T16:11:59Z (GMT). No. of bitstreams: 1 DelNery_SheilaMaria_M.pdf: 1596242 bytes, checksum: 3a63a3a181824dd043753133a6d53f97...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Del Nery, Sheila Maria
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1979
Subjects:
Filmes finos
Cristais - Propriedades físicas
Online Access:DEL NERY, Sheila Maria. Análise de alta precisão das variáveis cristalográficas de um filme fino. 1979. 97 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campimas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277232>. Acesso em: 17 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277232

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DEL NERY, Sheila Maria. Análise de alta precisão das variáveis cristalográficas de um filme fino. 1979. 97 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campimas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277232>. Acesso em: 17 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277232

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