Batista, J. A., & CAMPINAS, U. E. D. (2001). Detecção de defeitos em estruturas semicondutoras através da microscopia fototérmica de reflexão: A interferência optotérmica e o aumento de contraste. [s.n.].
Chicago Style (17th ed.) CitationBatista, Jerias Alves, and UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS. Detecção De Defeitos Em Estruturas Semicondutoras Através Da Microscopia Fototérmica De Reflexão: A Interferência Optotérmica E O Aumento De Contraste. [s.n.], 2001.
MLA (8th ed.) CitationBatista, Jerias Alves, and UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS. Detecção De Defeitos Em Estruturas Semicondutoras Através Da Microscopia Fototérmica De Reflexão: A Interferência Optotérmica E O Aumento De Contraste. [s.n.], 2001.
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