Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda

Orientador: Antonio Manoel Mansanares === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-09-26T13:55:51Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Freitas_LauraRamosde_D.pdf: 4490607 bytes, checksum: c7b66729395ef47ae8f2ab3bb212544e (MD...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Freitas, Laura Ramos de, 1975-
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2005
Subjects:
Microscopia fototérmica
Dispositivos semicondutores
Refletância
Photothermal microscopy
Semiconductor devices
Reflectance
Online Access:FREITAS, Laura Ramos de. Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda. 2005. 142 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277351>. Acesso em: 26 set. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277351

Internet

FREITAS, Laura Ramos de. Contraste na microscopia fototérmica de dispositivos semicondutores através da variação do comprimento de onda. 2005. 142 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277351>. Acesso em: 26 set. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277351

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