Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência

Orientador: Iris C. L. Torriani === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin" === Made available in DSpace on 2018-07-21T01:11:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cavalcanti_LeidePassos_M.pdf: 3330779 bytes, checksum: 0ee0ee5329fea84a0242a1...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Cavalcanti, Leide Passos
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1995
Subjects:
Raios X - Difração
Filmes finos
Raios X - Difração - Técnica
Online Access:CAVALCANTI, Leide Passos. Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência. 1995. 57f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin", Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277970>. Acesso em: 20 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277970

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CAVALCANTI, Leide Passos. Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência. 1995. 57f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica "Gleb Wataghin", Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277970>. Acesso em: 20 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277970

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