Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X

Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-08-03T14:48:44Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Chiaramonte_Thalita_M.pdf: 4831027 bytes, checksum: 32cfe64b3eb0e0ea61448b5fa3d8fda2 (...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Chiaramonte, Thalita
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2003
Subjects:
Raios X - Difração
Filmes finos - Propriedades mecânicas
Epitaxia
Cristais - Crescimento
Online Access:CHIARAMONTE, Thalita. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X. 2003. 69f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278192>. Acesso em: 3 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278192

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CHIARAMONTE, Thalita. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por técnicas de difração de raios-X. 2003. 69f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278192>. Acesso em: 3 ago. 2018.
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