Nanofios semicondutores : análise de propriedades elétricas e estruturais por microscopia no modo Kelvin Probe
Orientador: Monica Alonso Cotta === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-08-11T21:43:56Z (GMT). No. of bitstreams: 1 NarvaezGonzalez_AngelaCarolina_M.pdf: 14145813 bytes, checksum: 31ac8f1ebde240684c9bbe88b...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
[s.n.]
2008
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| Subjects: | |
| Online Access: | NARVAEZ GONZALEZ, Angela Carolina. Nanofios semicondutores: análise de propriedades elétricas e estruturais por microscopia no modo Kelvin Probe. 2008. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278455>. Acesso em: 11 ago. 2018. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278455 |
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NARVAEZ GONZALEZ, Angela Carolina. Nanofios semicondutores: análise de propriedades elétricas e estruturais por microscopia no modo Kelvin Probe. 2008. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278455>. Acesso em: 11 ago. 2018.http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278455