Teste de SRAMs baseado na integra??o de March teste e sensores de corrente on-chip

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Made available in DSpace on 2015-04-14T13:56:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1 425449.pdf: 1505039 bytes, checksum: 6f49f42dd2094687edefde36dcdef070 (MD5) Previous issue date: 2010-03-25 === Atualmente ? poss?vel observar que a ?rea dedicada a elementos de mem?ria em sistemas embarcados (Systems-on-...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Quispe, Ra?l Dar?o Chipana
Other Authors: Vargas, Fabian Luis
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul 2015
Subjects:
MICROELETR?NICA
CIRCUITOS INTEGRADOS
CIRCUITOS ELETR?NICOS
TOLER?NCIA A FALHAS (INFORM?TICA)
ALGORITMOS
CNPQ::ENGENHARIAS
Online Access:http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3030

Internet

http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3030

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