Um modelo de integração entre os padrões IEC 61850 e IEC 61970 (CIM/ XML).

REIN JR., O. UM MODELO DE INTEGRAÇÃO ENTRE OS PADRÕES IEC 61850 E IEC 61970 (CIM/XML). 2006. 98 p. Dissertação Mestrado – Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, São Paulo. A troca de informação entre os vários sistemas de gerenciamento e outros sistemas de informação de uma empresa do se...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Osvaldo Rein Junior
Other Authors: Jose Antonio Jardini
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2006
Subjects:
SCL
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3143/tde-05092006-150514/